泰克DSA8300数字采样示波器有什么测试功能

　　DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动，可以实现异常准确的器件检定，全面支持光通信标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155 Mb/s 至 40 Gb/s 及更高速率的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。

　　泰克DSA8300数字采样示波器是一台“数字采样示波器”(DSO) 或更精确地说，是一款“采样示波器”。这个根本区别决定了其所有测试功能和应用领域。

　　泰克DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动，可以实现异常准确的器件检定，全面支持光通信标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155 Mb/s 至 40 Gb/s 及更高速率的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。

    

　　泰克DSA8300的测试功能与应用领域

　　泰克DSA8300是采样示波器主要面向高端的研发和验证领域。

　　1. 光通信测试(核心中的核心)

　　这是DSA8300最主要、最强大的应用领域。通过安装不同的光学模块，它可以成为一台完整的光信号分析仪。

　　相干光通信测试： 支持高达120 GBaud及以上速率的高级调制格式(如QPSK, 16-QAM, 64-QAM)，用于测试400G/800G/1.6T光模块和传输系统。

　　关键测量： 眼图(Eye Diagram)、调制误差率(MER)、误差向量幅度(EVM)、光信噪比(OSNR)、相位恢复等。

　　非相干/直接检测光通信测试： 测试10G/25G/50G/100G (PAM4) 光模块。

　　关键测量： 光眼图、消光比、上升/下降时间、抖动(Jitter)、光功率。

　　2. 极高带宽的电信号完整性测试

　　其电通道带宽可达70 GHz以上(通过模块扩展)，是测试超高速电气接口的利器。

　　SerDes 验证与一致性测试： 用于验证芯片(如CPU, GPU, FPGA)和设备的串行接口。

　　测试标准： PCIe (PCIe 4.0/5.0/6.0), USB (USB 3.x/4), Thunderbolt, SAS, SATA, 100G/400G以太网(IEEE802.3)等。

　　关键测量：

　　眼图分析： 生成精确的眼图，测量眼高、眼宽、抖动。

　　抖动分解： 将总抖动(Tj)精确分解为随机抖动(Rj)和确定性抖动(Dj)，这是深入分析信号质量的关键。

　　掩模测试： 使用标准规定的模板(Mask)进行自动化通过/失败测试。

　　S参数测量： 通过时域反射计(TDR)模块，测量电缆、连接器、PCB通道的S参数(如插入损耗IL, 回波损耗RL)，分析通道特性。

　　3. 时域反射计(TDR)和时域传输计(TDT)

　　通过安装TDR模块，DSA8300可以变成一台高性能TDR/TDT分析仪。

　　应用： 定位PCB传输线、电缆和连接器中的阻抗不连续点(如断路、短路、不良连接)。

　　能力： 凭借其极高的带宽和采样精度，它能提供极高的分辨率，甚至可以定位到毫米级的缺陷。

　　4. 超低抖动测量

　　由于其采样技术和低噪声底，DSA8300能够实现极低的本底抖动(可低至100 fs以下)。

　　应用： 用于测量和表征参考时钟、振荡器、频率合成器等超低抖动源的质量，这是高速系统稳定运行的基础。

　　总之，泰克DSA8300数字采样示波器是一款专注于超高速、重复性信号精确表征的专业测量仪器。