简述Tektronix为DSA8300采样示波器推出新的光模块
2018/3/21 9:39:37
Tektronix公司为其DSA8300采样示波器推出了两个新的光学模块，提供了它所声称的行业高灵敏度和低噪音。这些光学模块使制造商能够提高生产能力，并提高400G设计的产量。
Tektronix还宣布了一个针对4通道并行处理的软件包，用于高吞吐量的制造测试，为新的400G PAM4 TDECQ测量提供升级的支持。
光器件产业正加速向400G和PAM4，以满足数据中心不断增长的带宽需求，同时降低信噪比，降低信号幅度，增加10倍以上的测试数量，挑战生产工程以降低设备测试成本。Tektronix公司证实其基于DSA8300的采样可以降低测试成本，该行业的带宽高，灵敏度高，且测试时间缩短。
Tektronix表示，新的56 GBaud PAM4 80C20和80C21光模块和NRZ通过9μW光学噪声可以安装在DSA8300采样示波器，通过双通道80C21，光器件制造测试工程师可以提高产量和容量。
Tektronix提供了一套全面的增强PAM4分析工具，用于分解信号内容，使其具有噪音和抖动，使工程师能够在设备故障时发现潜在的问题。
Tektronix公司的总经理Sarah Boen表示:“随着400G设计进入生产阶段，我们的客户正在寻找提高制造产量和测试成本的方法，这一切都始于对测试结果的信心，以及快速准确地将好的部件与坏的部件分开的能力。随着业界对低的噪音和高的灵敏度的需求，我们的解决方案提供了一些见解，提高了光学元件和互连的产量和吞吐量。”
从4月份开始，将有80C20和80C21光学模块和400G测试软件升级。
Tektronix还宣布了一个针对4通道并行处理的软件包，用于高吞吐量的制造测试，为新的400G PAM4 TDECQ测量提供升级的支持。
光器件产业正加速向400G和PAM4，以满足数据中心不断增长的带宽需求，同时降低信噪比，降低信号幅度，增加10倍以上的测试数量，挑战生产工程以降低设备测试成本。Tektronix公司证实其基于DSA8300的采样可以降低测试成本，该行业的带宽高，灵敏度高，且测试时间缩短。
Tektronix表示，新的56 GBaud PAM4 80C20和80C21光模块和NRZ通过9μW光学噪声可以安装在DSA8300采样示波器，通过双通道80C21，光器件制造测试工程师可以提高产量和容量。
Tektronix提供了一套全面的增强PAM4分析工具，用于分解信号内容，使其具有噪音和抖动，使工程师能够在设备故障时发现潜在的问题。
Tektronix公司的总经理Sarah Boen表示:“随着400G设计进入生产阶段，我们的客户正在寻找提高制造产量和测试成本的方法，这一切都始于对测试结果的信心，以及快速准确地将好的部件与坏的部件分开的能力。随着业界对低的噪音和高的灵敏度的需求，我们的解决方案提供了一些见解，提高了光学元件和互连的产量和吞吐量。”
从4月份开始，将有80C20和80C21光学模块和400G测试软件升级。