开发下一代高功率材料和器件的科研人员、科学家和设计工程师必需能够在各种DC和脉冲功率上进行测量，检验待测器件性能，同时使器件自热效应达到最小，因为自热经常导致器件或模块故障。这适用于材料研究、半导体器件、电路保护装置、高级照明技术、能源贮存和生成器件及消费电子中使用的功率管理电子等市场。

　　“全球绿色能源计划和能源效率标准正在推动对更高效的功率半导体器件和系统的需求。”泰克科技公司吉时利产品线总经理Mike Flaherty说，“最新的高功率应用是非常苛刻的，要求测试仪器能够分析比以前明显更高的电流、更高的功率、更高的峰值电流、以及更低的泄漏电流。

　　泰克的单通道和双通道可扩展源和测量 2600B 系列 SourceMeter SMU 仪器单通道和双通道型号提供业界最宽的动态范围：10A 脉冲至 0.1fA 以及 200V 至 100nV。 Keithley 的 IVy 应用提供现代化的界面，利用强大和快速的高分辨率 SMU 仪器来执行快速 I-V 检定。 2600B SMU 仪器极大地提升了从台式 I-V 检定到高度自动化生产测试的各种应用中的效率。

　　Keithley SMU 2600B 系列源测量单元仪器型号：2636B、2635B、2602B、2612B、2604B、2614B、2611B、2601B。