泰克半导体测试系统4200-SCS 是一个模块化、完全集成的参数分析仪，用于执行材料、半导体器件和流程的电气检定。从基本的 I-V 和 C-V 测量扫描到先进的超快脉冲式 I-V、波形捕获和瞬态 I-V 测量，4200-SCS 为研究人员或工程师提供设计、开发或生产所需的关键参数。

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